ED400型涡流测厚仪

       仪器适于测量各种非磁性金属基体上绝缘性覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳极氧化膜或涂层厚度，还可用于测量其它铝板、铝管、铝塑板、铝零件表面的阳极氧化膜或涂层厚度，测量其他有色金属材料上绝缘性覆盖层的厚度，测量塑料薄膜及纸张厚度。仪器适于在生产现场、销售现场或施工现场对产品进行快速、无损的膜厚检查， 可用于生产检验、验收检验和质量监督检验。

技术参数

测量范围：     0～500μm
测量精度：     0～50μm：±1μm；
                    50～500μm：±2%
分 辨 率：      0～50μm：0.1μm；
                    50～500μm：1μm；
                    0～500μm：1μm（可选）
使用温度：     5～45℃
外形尺寸：     150mm×80mm×30mm
重      量：     280g

天星涡流测厚仪ED400是ED300型测厚仪的改进型，仪器性能大幅度提高。仪器适于测量各种非磁性金属基体上绝缘性覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳极氧化膜或涂层厚度，还可用于测量其它铝材料、铝工件表面的阳极氧化膜或涂层厚度，以及其他有色金属材料上绝缘性覆盖层的厚度，测量塑料薄膜及纸张厚度。仪器适于在生产现场、销售现场或施工现场对产品进行快速、无损的膜厚检查，可用于生产检验、验收检验和质量监督检验。仪器符合国家标准GB/T4957-2003 《非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量涡流法》。

涡流测厚仪ED400仪器特点

ED400型涡流测厚仪与ED300型相比，具有如下特点：*量程宽 ED400型的量程达到0～500μm。

*精度高 ED400型的测量精度达到2%。

*分辨率高 ED400型的分辨率达到0.1μm。

*校正简便 只校正“0”和“50μm”两点，即可在全量程范围内保证设计精度。

*基体导电率影响小 基体材料从纯铝变化到各种铝合金、紫铜、黄铜时，测量误差不大于1～2μm。

*可靠性提高 采用高集成度、高稳定性电子器件，电路结构优化，仪器可靠性提高。

*稳定性提高 采用先进的温度补偿技术，测量值随环境温度的变化很小。仪器校正一次可在生产现场长期使用。

*探头线寿命长 采用德国进口的，在德国测厚仪上使用的探头线，探头线寿命可大大延长。

*探头芯寿命长 采用高强度磁芯材料，微调了探头设计，探头芯寿命可大大延长。

*探头可互换 外接式探头，探头损坏后，使用者可自行更换备用探头。仪器无需返厂维修。

涡流测厚仪ED400技术参数

测量范围： 0～500μm

测量精度： 0～50μm：±1μm；

50～500μm：±2%

分辨率： 0～50μm：0.1μm、

50～500μm：1μm；

0～500μm：1μm（可选）

配置与选配

标准配置

主机 1台

探头 1支

基体 1块（6063合金）

校正箔片 1片（约50μm，附检测报告）

使用说明书 1份

合格证 1份

保修单 1份

手提式仪器箱1个

可选附件

备用探头

基体

校正箔片（约50μm，附检测报告）